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ZR400-7-VIS-M 反射探頭

ZR400-7-VIS-M 反射探頭

ZR600-7-NIR-P 反射探頭

ZR600-7-NIR-P 反射探頭

ZR400-7-UV-P 反射探頭

KEWLAB 反射探頭適用于UV-VIS-NIR(200-1100 nm)波長范圍,有各種波長范圍、光纖芯徑、包層材料及長度等可供選擇。

¥?1,850.00
In stock
SKU
ZR02

反射探頭主要用于光譜分析領(lǐng)域,它具有堅實耐用、穩(wěn)定性高、插入損耗低和反射損耗低等特性。光源的信號光由光纖一端傳導至待測物體,然后作用光經(jīng)反射探測后將其傳輸至光譜分析儀器。

我們有各種波長范圍、光纖芯徑、包層材料及長度等可供選擇,以滿足高校、科研機構(gòu)及工業(yè)企業(yè)對傳導光纖的各種應用需求。

另外,針對實際應用需求,我們能夠為客戶提供各種標準的定制反射探頭。

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特點:

  • 光譜范圍:190~2200nm
  • 光纖芯徑:200~600μm
  • 包層材料:金屬/塑料
  • 標準長度:0.5m、1m、2m,其它長度可定制
規(guī)格
波長范圍 200~1100 nm
光纖芯徑 400 μm
長度 2 m
包層材質(zhì) 塑料
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